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头戴耳机开关寿命试验机

  • 头戴耳机开关寿命试验机
    1. 祥敏仪器

产品详情

                   


           耳机轻触开关寿命试验机  XM-5600IV-II

一、用途:

本机台适用于电话机、计算器按键寿命耐久试验检测。可靠性高,降低客户的人力资源,提高产品的质量,本设备深受广大客户的好评。

 耳机轻触开关寿命试验机.png

产品图片

  

测试设备的参数如下:

    测试工位:4个,每工位1个测试头

每个工位可设定1、2、3循环,或同时按压

每个按压气缸抬起、下压间隔时间可独立设定

高度调整:手动调节高度

循环次数:1-99999次

测试速度范围:0~150次/min

测试头最小动作间隔:0.2S

测试荷重:150-1500g,通过气压调节

控制方式:PLC+触摸屏

气源:≥0.5Mpa

电源:AC  220V

 


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